真空衰減法密封儀-原理對(duì)比

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測(cè)試原理

將儀器連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來容納需要被測(cè)試的包裝的測(cè)試腔。包裝被置于要被抽真空的實(shí)驗(yàn)腔內(nèi)。雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化，利用真空衰減原理判斷試樣是否泄漏。

執(zhí)行GB/T17876、GB/T 15171－94

真空衰減法密封測(cè)試儀與以往的水檢法相比較的優(yōu)勢(shì)表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

1.改善測(cè)試精度，降低泄漏風(fēng)險(xiǎn)；傳統(tǒng)水檢法精度大約25um，真空衰減法精度可達(dá)10-15um。

2.減少原料耗費(fèi)，降低生產(chǎn)成本；由于是無損測(cè)試，全部包裝可以返回市場(chǎng)銷售

3.可以獲得漏孔級(jí)別；借助微型流量計(jì)可以獲得漏孔級(jí)別

4.適用性廣，適用于各種不同規(guī)格，形狀的的密封性檢測(cè)，一次測(cè)試多樣提高了測(cè)試效率

5. 無需樣品制備，無損、定量、可靠、可重復(fù)、客觀；設(shè)備參與制定ASTM 真空衰減法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，具有多個(gè)實(shí)驗(yàn)室的精密度與偏差研究數(shù)據(jù)支撐，獲得的數(shù)據(jù)更客觀，可重復(fù)，更可信。

Leak-S微泄露密封測(cè)試儀適用于藥品包裝凍干粉針劑瓶、西林瓶、安瓿瓶等針劑注射劑瓶密封性測(cè)試。不同于以往的水檢法，對(duì)試樣造成的破壞。Leak-S采用真空衰減法測(cè)試原理，*無損檢測(cè)技術(shù)，滿足ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)。高精度的測(cè)試技術(shù)能夠檢測(cè)到微型小孔的泄漏。

技術(shù)參數(shù)

指標(biāo)     參數(shù)

真空度     0--100kPa

檢測(cè)孔徑精度 ＜3μm

設(shè)備操作 自帶HMI

內(nèi)部壓力 常壓

測(cè)試系統(tǒng) 真空傳感器技術(shù)

真空來源 外接真空泵

測(cè)試腔     根據(jù)樣品定做

檢測(cè)原理 真空衰減法/無損檢測(cè)

主機(jī)尺寸 500mmX360mmX320mm（長(zhǎng)寬高）

重    量     18Kg

環(huán)境溫度 20℃-30℃

相對(duì)濕度 不超過80%,無凝露

工作電源 220V

真空衰減法密封儀-原理對(duì)比