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方歐電阻測(cè)厚儀|真空鍍鋁膜鍍層厚度測(cè)試儀工作原理金屬鍍層為一金屬導(dǎo)體，根據(jù)歐姆定律測(cè)量規(guī)定長(zhǎng)度和寬度的試樣的電阻值，計(jì)算其方塊電阻值，從而得出鍍層厚度。

電阻法真空金屬鍍層厚度測(cè)試儀根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 15717《真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法---電阻法》設(shè)計(jì)，可以測(cè)試非導(dǎo)電基材表面各種金屬鍍層的厚度。

金屬鍍層測(cè)厚儀/鋁膜涂層測(cè)厚儀根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 15717《真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法---電阻法》設(shè)計(jì)，可以測(cè)試非導(dǎo)電基材表面各種金屬鍍層的厚度。

紙張測(cè)厚儀-解析儀器適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。其工作原理是在一定壓力下，直接測(cè)量紙或紙板在兩測(cè)量板間的厚度。

鍍鋁層厚度測(cè)試儀符合BB/T0030《包裝用鍍鋁薄膜》中相關(guān)要求，其中鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度遵循GB/T15717中真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法（電阻法）中鍍厚度要求。